锂电池升压 5V 方案测试报告PW5100-503.7V →5V/0.6A 与 PW53003.7V→5V/1A与 PW62763.7V→5V/2.4A实测对比测试项输入电压 · 输入电流 · 输出电压 · 输出电流 · IC温度热成像 · 静态电流 输入条件Vin3.7V / 4.0V一、测试目的与内容概览对比 PW53001A 档与 PW62762A 档在锂电池 3.7V/4.0V 输入下的升压 5V 性能测试对象● PW5100非同步整流 Boost1.2MHz10uA静态电流固定输出5V0.6A 输出档● PW5300非同步整流 Boost1MHzOCP 0.5~2.5A 可编程1A 输出档● PW6276同步整流 Boost500kHz内置低阻 MOS39mΩ/42mΩ2A 输出档测试项目① 输入电压 Vin 波形示波器 CH1② 输入电流 Iin 波形电流探头 → CH2③ 输出电压 Vout 波形示波器 CH3④ 输出电流 Iout 波形电流探头 → CH4⑤ IC 表面温度热成像图FLIR25℃ 环境⑥ ENH 空载静态电流 Iq万用表 μA 档输入条件Vin 3.7V锂电中值、Vin 4.0V锂电满电略降压输出条件Vout 5.0VIout PW5100-500.6A / PW53001A / PW62762A四、PW5100-50 输出 5V/0.5A 测试 Vin 3.7V测试条件芯片PW5100-50拓扑异步 BoostVin3.68V锂电中值Vout4.93VIout0.5A电感 L4.7μHCin10μF × 1Cout22μF × 1fsw1MHz五、PW5100-50 IC 温度热成像 Vin 3.7V测试条件芯片PW5100-50 (SOT-23-6L)Vin3.70VVout5.00VIout0.5A环境温度25℃运行时间2 min六、PW5100-50 输出 5V/0.5A 测试 Vin 4V测试条件芯片PW5100-50拓扑异步 BoostVin4V锂电中值Vout5.0VIout0.5A电感 L4.7μHCin10μF × 1Cout22μF × 1fsw1MHz七、PW5100-50 IC 温度热成像 Vin 4V测试条件芯片PW5100-50 (SOT-23-6L)Vin4.0VVout5.00VIout0.5A环境温度25℃运行时间2 min八、ENH 空载静态电流 Iq 实测万用表 μA 档串接电池正极EN 拉高、无负载No switchingPW5100-50 静态电流实测VIN3.7VVin3.7VENHNo switching实测6.8μA规格 typ 6.8μA效率优势低静态、常电常在待机功耗低PW5100-50 静态电流实测VIN4VVin4VENHNo load实测8.6μA规格 typ 8.6μA十、PW5300 输出 5V/1A 测试 Vin 3.7V测试条件芯片PW5300拓扑异步 BoostVin3.659V锂电中值Vout5.1VIout1.0A电感 L4.7μHCin10μF × 2Cout10μF × 2二极管SS34fsw1MHz十一、PW5300 IC 温度热成像 Vin 3.7V测试条件芯片PW5300 (SOT-23-6L)Vin3.70VVout5.00VIout1.0A环境温度25℃运行时间2 min十二、PW5300 输出 5V/1A 测试 Vin 4V测试条件芯片PW5300拓扑异步 BoostVin3.975V锂电中值Vout5.1VIout1.0A电感 L4.7μHCin10μF × 2Cout10μF × 2二极管SS34fsw1MHz十三、PW5300 IC 温度热成像 Vin 4V测试条件芯片PW5300 (SOT-23-6L)Vin4.0VVout5.00VIout1.0A环境温度25℃运行时间2 min十四、ENH 空载静态电流 Iq 实测万用表 μA 档串接电池正极EN 拉高、无负载No switchingPW5300 静态电流实测VIN3.7VVin3.7VENHNo switching实测94.3μA规格 typ 94.3μA效率优势低静态、常电常在待机功耗低PW5300 静态电流实测VIN4VVin4VENHNo load实测95μA规格 typ 95μA十六、PW6276 输出 5V/2A 测试 Vin 3.7V测试条件芯片PW5300拓扑同步 BoostVin3.63V锂电中值Vout5.07VIout2.0A电感 L3.3μHCin22μF × 1Cout22μF × 2二极管fsw1MHz十七、PW6276 IC 温度热成像 Vin 4V测试条件芯片PW6276 (SOP8-EP)Vin3.7VVout5.00VIout2.0A环境温度25℃运行时间2 min十八、PW6276 输出 5V/2A 测试 Vin 3.7V测试条件芯片PW6276拓扑同步 BoostVin3.93V锂电中值Vout5.06VIout2.0A电感 L3.3μHCin22μF × 1Cout22μF × 2二极管fsw1MHz十九、PW6276 IC 温度热成像 Vin 4V测试条件芯片PW6276 (SOP8-EP)Vin4.0VVout5.00VIout2.0A环境温度25℃运行时间2 min二十、ENH 空载静态电流 Iq 实测万用表 μA 档串接电池正极EN 拉高、无负载No switchingPW6276 静态电流实测VIN3.7VVin3.7VENHNo switching实测462μA规格 typ 462μA效率优势低静态、常电常在待机功耗低PW6276 静态电流实测VIN4VVin4VENHNo load实测508μA规格 typ 508μA二十一、选型建议与结论按输出电流 / 静态功耗 / 封装工艺三个维度给出选型指引总结PW5300 定位 5V/≤1A 小功率场景异步 Boost 拓扑外围简单特别适合成本敏感、待机低功耗需求PW6276 定位 5V/2A 中功率场景同步整流拓扑效率高、发热低适合共享设备、便携电源、USB 输出两颗芯片测试全项达标Vin3.7V / 4.0V 两档均可稳定输出 5V纹波、效率、温升均在工程可接受范围内。